Esta es nuestra librería de Chile.

Parece que estás en Estados Unidos. Para comprar en nuestra librería de Chile necesitas una dirección Chile. Ve a nuestra librería de Estados Unidos para continuar.

Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision Instrumentation eBook de Fangzhou Xia,Ivo W. Rangelow,Kamal Youcef-Toumi

Active Probe Atomic Force Microscopy

A Practical Guide on Precision Instrumentation

Sinopsis

Acerca de este libro

  • Idioma:English
  • ISBN:9783031442339
  • Fecha de lanzamiento:6 feb 2024
  • Editorial:Springer International Publishing
  • Edición:Springer
  • Formato de archivo:EPUB3
  • Tamaño de archivo:51.27 MB
  • Opciones de descarga:EPUB3 (Adobe DRM)