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Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach eBook de Toni T. Mattila,Mervi Paulasto-Kröckel,Tomi Laurila,Vesa Vuorinen,Jorma Kivilahti,Markus Turunen

Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Sinopsis

Acerca de este libro

  • Idioma:English
  • ISBN:9781447124702
  • Fecha de lanzamiento:10 ene 2012
  • Editorial:Springer London
  • Edición:Springer
  • Formato de archivo:EPUB2
  • Tamaño de archivo:5.93 MB
  • Opciones de descarga:EPUB2 (Adobe DRM)