Ihre Datenschutzeinstellungen

Indem Sie „Alle akzeptieren“ auswählen, erlauben Sie Rakuten Kobo und seinen Partnern, Cookies, Tracking- und ähnliche Technologien zu verwenden, um Ihre persönlichen Daten zu erfassen und für folgende Zwecke zu verarbeiten: um die Website und die Kobo-Dienste zu betreiben und sicherzustellen, dass sie ordnungsgemäß funktionieren, um Ihnen personalisierte Inhalte auf Kobo und Werbung für Kobo auf anderen Plattformen bereitzustellen und um Analysen zu messen und zu analysieren, wie unsere Website und Dienste genutzt werden. Klicken Sie andernfalls auf „Ablehnen“, um alle nicht zwingend erforderlichen Zwecke abzulehnen, oder rufen Sie „Datenschutzeinstellungen“ auf, um Ihre Einstellungen für jeden Zweck zu verwalten. Für weitere Informationen lesen Sie bitte unsere Datenschutzrichtlinie.

Datenschutzeinstellungen
Zum Hauptinhalt springen
Wunschzettel
Warenkorb
Konto einrichten
Haben Sie ein Konto?Anmelden
Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach eBook nach Toni T. Mattila,Mervi Paulasto-Kröckel,Tomi Laurila,Vesa Vuorinen,Jorma Kivilahti,Markus Turunen

Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Toni T. Mattila,Mervi Paulasto-Kröckel,Tomi Laurila,Vesa Vuorinen,Jorma Kivilahti,Markus Turunen
Engineering (R0)

Kurzbeschreibung

Kategorien

Zu diesem Buch

  • Sprache:English
  • ISBN:9781447124702
  • Erscheinungsdatum:10. Jan. 2012
  • Herausgeber:Springer London
  • Imprint:Springer
  • Dateiformat:EPUB2
  • Dateigröße:5.93 MB
  • Downloadoptionen:EPUB2 (Adobe DRM)