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Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach 電子ブック  Toni T. Mattila,Mervi Paulasto-Kröckel,Tomi Laurila,Vesa Vuorinen,Jorma Kivilahti,Markus Turunen 著

Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Engineering (R0)

あらすじ

この書籍について

  • 言語 English
  • 商品番号:9781447124702
  • 発売日 2012年1月10日
  • 出版社:Springer London
  • 出版社: Springer
  • ファイル形式 EPUB2
  • サイズ 5.93 MB
  • ダウンロードオプション:EPUB2 (Adobe DRM)