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Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies eBook par Alberto Bosio,Luigi Dilillo,Patrick Girard,Serge Pravossoudovitch,Arnaud Virazel

Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Alberto Bosio,Luigi Dilillo,Patrick Girard,Serge Pravossoudovitch,Arnaud Virazel

Engineering (R0)

Résumé

Catégories

À propos de ce livre

Langue :English
ISBN :9781441909381
Date de parution :5 juil. 2016
Éditeur :Springer US

Marque éditoriale :Springer
Format de fichier :EPUB2
Taille de fichier :1.89 MB
Options de téléchargement :EPUB2 (Adobe DRM)

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