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Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach eBook par Toni T. Mattila,Mervi Paulasto-Kröckel,Tomi Laurila,Vesa Vuorinen,Jorma Kivilahti,Markus Turunen

Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Toni T. Mattila,Mervi Paulasto-Kröckel,Tomi Laurila,Vesa Vuorinen,Jorma Kivilahti,Markus Turunen
Engineering (R0)

Résumé

Catégories

À propos de ce livre

  • Langue :English
  • ISBN :9781447124702
  • Date de parution :10 nov. 2017
  • Éditeur :Springer London
  • Marque éditoriale :Springer
  • Format de fichier :EPUB2
  • Taille de fichier :5.93 MB
  • Options de téléchargement :EPUB2 (Adobe DRM)