Setările dvs. de confidențialitate

Selectând „Acceptă toate”, permiți Rakuten Kobo și partenerilor săi să utilizeze module cookie, tehnologii de urmărire și tehnologii similare pentru a colecta datele tale cu caracter personale și a le prelucra în următoarele scopuri: pentru a opera site-ul și serviciile Kobo și a asigura funcționarea corectă a acestora, pentru a-ți oferi conținut personalizat pe Kobo și reclame pentru Kobo pe alte platforme, precum și pentru a măsura analizele și a analiza modul în care sunt utilizate site-ul și serviciile noastre. În caz contrar, dă clic pe „Refuz” mai jos pentru a respinge toate scopurile neesențiale sau consultă „Setările de confidențialitate” pentru a-ți gestiona preferințele pentru fiecare scop. Pentru mai multe informații, citește Politica de confidențialitate.​

Vizualizați setările de confidențialitate
Sari la conținut principal
Lista de dorințe
Coș
Creare cont
Aveți un cont?Conectare
Multilabel Classification - Problem Analysis, Metrics and Techniques Cărți electronice de Francisco Herrera,Francisco Charte,Antonio J. Rivera,María J. del Jesus

Multilabel Classification

Problem Analysis, Metrics and Techniques

Francisco Herrera,Francisco Charte,Antonio J. Rivera,María J. del Jesus
Computer Science (R0)

Rezumat

Categorii

Despre această carte

  • Limbă:English
  • ISBN:9783319411118
  • Data lansării:23 aug. 2016
  • Editura:Springer International Publishing
  • Casetă tehnică:Springer
  • Formatul fișierului:EPUB2
  • Dimensiunea fișierului:3.32 MB
  • Opțiuni de descărcare:EPUB2 (Adobe DRM)

În această serie

Sari peste această listă

Multiple Instance Learning

Francisco Herrera,Sebastián Ventura,Rafael Bello,Chris Cornelis,Amelia Zafra,Dánel Sánchez-Tarragó,Sarah Vluymans