Engineering (R0) Bogserier - e-bøger | Rakuten Kobo Danmark

Skip to main content

Indkøbskurv

Vare(r) ikke tilgængelig til køb

Gennemgå din indkøbskurv. Du kan fjerne de(n) tilgængelige vare(r) nu, ellers fjerner vi det automatisk ved kassen.

varervare

- Inkluderer e-bøger
  
  Inkluderer lydbøger
  
  Inkluderer 30 timers lyttetid
  
  Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions
  
  Få 1 kredit hver måned til en lydbog efter eget valg
  
  Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions
  
  Inkluderer e-bøger
  
  Inkluderer lydbøger
  
  Inkluderer 30 timers lyttetid
  
  Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions
  lydbog
  af ,
  
  Ledig:
  
  . Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions.
  
  Forudbestilling
  1 lydbog om måneden
  
  + GRATIS 30-dages prøve
  
  Særtilbud
  
  Få 1 kredit hver måned til at bytte til en lydbog efter eget valg
  
  *Ingen forpligtelse, annuller når som helst
  
  GRATIS

varervare

Inkluderer e-bøger

Inkluderer lydbøger

Inkluderer 30 timers lyttetid

Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions

Få 1 kredit hver måned til en lydbog efter eget valg

Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions

Inkluderer e-bøger

Inkluderer lydbøger

Inkluderer 30 timers lyttetid

Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions
lydbog
af ,

Ledig:
. Ingen forpligtelse, aflys når som helst på kobo.com/account/subscriptions.

Forudbestilling
1 lydbog om måneden

+ GRATIS 30-dages prøve

Særtilbud

Få 1 kredit hver måned til at bytte til en lydbog efter eget valg

*Ingen forpligtelse, annuller når som helst

GRATIS

Anbefalet til dig

Skip side bar filters

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

af Ireneusz Mrozek ...

Serier serie Engineering (R0)
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their ... Læs mere

466,97 kr.

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their
... Læs mere