Parece que estás en Estados Unidos. Para comprar en nuestra librería de México necesitas una dirección México. Ve a nuestra librería de Estados Unidos para continuar.
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Kobo anima a los amantes de los libros a leer más.
Eric Verhulst, Raymond T. Boute, José Miguel Sampaio Faria, Bernhard H.C. Sputh, Vitaliy Mezhuyev
$1,793.00
Manfred Dietrich, Joachim Haase
$1,614.00
Antonio Carlos Schneider Beck, Carlos Arthur Lang Lisbôa, Luigi Carro
$1,614.00
Alberto Macii, Luca Benini, Massimo Poncino
$1,614.00
Arkadeb Ghosal, Marco Di Natale, Paolo Giusto, Haibo Zeng
$1,972.00
Srinivas Devadas, José Monteiro
$2,510.00
Wenjian Yu, Xiren Wang
$1,614.00
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen
$1,793.00
Gennaro S. Rodrigues, Fernanda L. Kastensmidt, Alberto Bosio
$1,614.00
Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang
$1,076.00
¡Sé la primera persona en valorar y reseñar este libro!
