Ved at vælge "Accepter alle", giver du Rakuten Kobo og deres partnere tilladelse til at bruge cookies, sporing og lignende teknologier til at indsamle dine personlige data og behandle dem til følgende formål: at drive hjemmesiden og Kobos tjenester og sikre, at de fungerer korrekt, at levere personligt tilpasset indhold til dig på Kobo og annoncere for Kobo på andre platforme, og at måle analyser og analysere, hvordan vores hjemmeside og tjenester bliver brugt. Ellers skal du klikke på "Afvis" nedenfor for at afvise alle ikke-væsentlige formål eller se "Databeskyttelsesindstillinger" for at administrere dine præferencer for hvert formål. Læs vores Databeskyttelsespolitik.
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Kobo giver bogelskere mulighed for at læse mere.
Eric Verhulst, Raymond T. Boute, José Miguel Sampaio Faria, Bernhard H.C. Sputh, Vitaliy Mezhuyev
934,37 kr.
Manfred Dietrich, Joachim Haase
840,93 kr.
Antonio Carlos Schneider Beck, Carlos Arthur Lang Lisbôa, Luigi Carro
840,93 kr.
Alberto Macii, Luca Benini, Massimo Poncino
840,93 kr.
Arkadeb Ghosal, Marco Di Natale, Paolo Giusto, Haibo Zeng
1.027,82 kr.
Srinivas Devadas, José Monteiro
1.308,16 kr.
Wenjian Yu, Xiren Wang
840,93 kr.
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen
934,37 kr.
Gennaro S. Rodrigues, Fernanda L. Kastensmidt, Alberto Bosio
840,93 kr.
Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang
560,59 kr.
Vær den første til at bedømme og anmelde denne bog!
